Ersatzteile für Mikroskope
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Gefilterte Suchergebnisse
Carl Zeiss™ 380059.1660 Halogen Glühlampe, 12V / 100W
Hervorragende Beleuchtung für Halogenlampen im Labor.
Applied Biosystems™ FLoid™ Printer, Paper Cartridge, Ink/Paper
This is a complete printer package for the FLoid™ Cell Imaging Station with all you need to immediately print your images and share or paste into your lab notebook.
Applied Biosystems™ FLoid™ Printer Ink/Paper
Zur Verwendung mit FLoid Zellbildgebungsstation-kompatiblen Druckern
Motic™ Ersatzlampe für Mikroskop
Zur Verwendung mit BA210/310 Mikroskopen. Motic™ Quarz-Halogenlampe erfordert 6 V/30 W.
Versand am Tag der Bestellung für Produkte, die vor 14 Uhr bestellt wurden. Versand am nächsten Arbeitstag bei Bestellung nach 14 Uhr.
Erfahren Sie mehr
Motic™ CCIS Plan-achromatische Phasenobjektive
CCIS™ EC-H Plan-Phasen-Objektiv, negative Phase, ist mit allen Mikroskopen der BA-Serie kompatibel.
Menge | Je 1 |
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Typ | Achromatisches CCIS-Planphasenobjektiv, negative Phase |
Zur Verwendung mit (Geräte) | Serie BA Microscope |
Sichtfeld | EC-H Planphase |
Motic™ CCIS Plan-achromatische Phasenobjektive
Zur Verwendung mit Inversmikroskopen der Serie Motic™ AE. Das achromatische Phasenobjektiv Motic™ LWD Plan verstärkt die Vergrößerung um 40X/0.5 (WD=3.0 mm)
Motic™ Halogen-Ersatzlampe
Verbraucht 12 Volt und 20 Watt. Die 12V/20 W-Halogenlampe kann mit allen Motic™ Mikroskopen verwendet werden.
SCHOTT AG Lighting and Imaging™ RING RUECKLICHT 84MM 84MM
Ermöglicht eine extrem homogene Beleuchtung für alle Arten von transparenten Proben.
Carl Zeiss™ Carl Zeiss™ Mikroskopobjektmikrometer
Fein geteiltes Stufen-Mikrometer zur Kalibrierung optischer Systeme mit Struktur-Strichplatten. Das Mikrometer-Basisplatten-Mikroskop von Carl Zeiss™ bietet Intervalle von 1 mm und 1/100 mm.
Enthält | Objektmikrometer, 5 Linien mit 1 mm-Intervallen in y-Richtung |
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Typ | Objektmikrometer |
Typ | Montagerahmen M |
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Zur Verwendung mit (Geräte) | Invertoskop-Mikroskop |
Leica Microsystems SLIDER DARK FIELD
Verbessern Sie Probenbilder durch Erhöhen des Kontrasts zwischen Probe und Hintergrund mithilfe der Dunkelfeld-Methode. Der Leica Microsystems™ Dunkelfeld-Schieberegler ermöglicht die Visualisierung kleiner Strukturen, die bei der Hellfeldbeobachtung häufig übersehen werden.